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返回产品中心>RED-Wave 红外InGaAs 光纤光谱仪，光谱范围900-2300nm，TEC制冷到-10°C，信噪比可以做到4000：1。积分时间1ms到30s。*高分辩率可以做到3.1nm。
• 光谱测试范围900-2300 nm or 900–1700nm
• 近红外光谱测试和宽带宽应用
• 512 or 1024 像素InGaAs 和PDA探测器
• 集成热电制冷(TEC)到-10°C
• Windows XP/Vista/7 操作程序
• 高速USB-2接口，即插即用
| Specifications Zero defect 512 detector RED-Wave NIR InGaAs Spectrometer | |
| 动态范围: 4000:1 with 5 decades | 尺寸: 150 x 100 x 68.8 mm |
| 分辨率: 见下表（ 25μm slit） | 功率: 2 Amps @ 5 VDC |
| 像素尺寸: 25um x 500um | A/D转化: 16-bit |
| 像素阱深: 130 x108 electrons | 数据转换速度: 40x faster than USB-1 |
| 阱深控制: 130 x108 or 5 x106 el. | 积分时间: 1ms to 30s |
| 信噪比: 4000:1 with TEC cooling（900-1700nm） 400:1 with 2x TEC cooling（900-2300nm） | 狭缝选择: 25, 50,100, or 200μm |
| 软件: SpectraWiz program & apps | |
| RED-Wave Models | Number of Elements | Spectrometer Range (nm) | Grating (g/mm) | Grating Range (nm) | Dispersion (nm/pixel) | Estimated Resolving Resolution |
| NIR | 512 | 900-1700 | 250 | 800nm | 1.562 | 3.1nm |
| NIRb | 512 | 900-1600 | 300 | 650nm | 1.269 | 2.5nm |
| NIR2 | 512 | 1250-1575 | 600 | 325nm | 0.634 | 1.3nm |
| NIR2b | 512 | 1150-1475 | 600 | 325nm | 0.634 | 1.3nm |
| NIR | 1024 | 1000-1700 | 600 | 700nm | 0.683 | 1.4nm |
| NIR3-HR | 512 | 1530-1605 | 1200 | 70nm | 0.195 | 0.4nm |
| NIR3-HR | 1024 | 1500-1640 | 1200 | 140nm | 0.195 | 0.4nm |
| NIRX | 512 | 1500-2200 | 300 | 700nm | 1.367 | 2.8nm |
| NIRX | 1024 | 1500-2200 | 600 | 700nm | 0.683 | 1.4nm |
| NIRX-SR | 512 | 900-2300 | 300 | 1400nm | 5.3 | <13nm |
| NIRX-SR | 1024 | 900-2300 | 600 | 1400nm | 2.7 | <7nm |
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