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简介:简单介绍:它具有更准确,更广泛的用途,四种语言菜单。
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简介:简单介绍:LE-200J电磁型日本KETT膜厚仪采用了磁测厚方法,可无损的测量磁性金属基体(如铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铜、铝、锌、锡等)
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简介:简单介绍:LZ-200J采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损的测量磁性金属基体(如铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铜、铝、锌、锡等)及非磁性金属基体(如铜、铝锌、锡等)上的非导电覆层的...
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简介:简单介绍:LH-373本仪器采用涡流测厚方法,可无损的测量非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层的厚度(珐琅、油漆等)品牌日本KETT膜厚计原型号LH-370均为日本
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简介:简单介绍:本公司专业销售日本KETT全系列产品,包括LZ-990LZ-373LE-373LH-373LZ-200JLE-200JLH-200J;
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简介:简单介绍:特点:日本,本仪器采用电磁式和涡流两种测厚方法,可无损的测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)。
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简介:简单介绍:本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损的测量磁性金属基体(如铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导...
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简介:简单介绍:SZX7立体显微镜采用了左右光路无差异的、平行光束的伽利略光学系统。配置了与观察面平行的高NA物镜,实现了平坦性*的高分辨率影像观察。可以在丰富的附件中自由选择所需中间镜筒和物镜,构建符...
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简介:简单介绍:SZX16通用显微镜是根据检测应用的需求设计的,0.7x-11.5x,变倍比可达16.4倍,分辨率可达900LP/mm。能够满足广泛的研究需求。
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简介:简单介绍:为工业和材料学应用而设计BX3M系列采用了模块化设计,为广泛的材料学和工业应用提供了多样化的解决方案。BX53根据工业和材料学的不同应用,可以组合成反射显微镜、透反射显微镜、红外显微镜、...
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