简介：可评估薄膜导电性能的高温四探针测试仪采用直排四探针法设计原理测量。主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能，重复性与稳定性更好，采用双屏蔽高频测试线缆，提高测试参数的精确度，同时抗干扰能力更强。本设...

简介：HCTZ-2S北京华测试验仪器四探针测试仪器是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的，于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄...

简介：

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简介：4D公司所提供的探针质保次数是25万次，而实际从客户反馈的信息是寿命达到100万次以上，甚至150万次以上。同时4D还为客户提供探头的探针更换服务，大大降低客户的使用成本。美国四探针电阻率/方块电...

简介：RTS-2/RTS-2A型便携式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的，于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外...

简介：于测试低阻金属材料电阻率及方块电阻测量范围：电阻率：10-7～10-2Ω.cm；方块电阻：10-6～10-1Ω/□；RTS-11型金属四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备，该仪器按...

简介：测量范围电阻率：0.001～200Ω.cm(可扩展)；方块电阻：0.01～2000Ω/□(可扩展)；电导率：0.005～1000s/cm；电阻：0.001～200Ω.cm；

简介：HCTZ-2S北京华测四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的，于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）的...

简介：可评估薄膜导电性能的高温四探针测试仪采用直排四探针法设计原理测量。主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能，参考美国A.S.T.M标准设计。重复性与稳定性更好，采用双屏蔽高频测试线缆，提高测试参数的...