简单介绍： LE-200J电磁型日本KETT膜厚仪采用了磁测厚方法，可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、锌、锡等）
本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、锌、锡等）
型号 LE-200J 测定方法 电磁式 测定对象 磁性金属上非磁性涂镀层 测定范围 0-1500µm 测定精度 <15µm±0.3µm >15µm±2% < 50µm±1µm >50µm±2% 分辨率 <100µm 0.1µm >100µm 1µm 统计功能 测试数 /*大值/*小值/平均值/标准偏差/连续测量 界限设定 可设定上/下限数值 测试单位 公/英制互换 显示方式 LCD 数显 操作面板 密封防水按键 打印 本机配备打印机打印统计数据 附属品 基体/校正标准片/测头/电池/曲面支架/皮套/说明书 电源 主机5#电池×6 打印机5#电池×4个带220V变压器 体积 120（W)×250(D)×55(H) 重量 1100g
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