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当前位置:仪器网 > 产品中心 > 物性测试仪器及设备>测厚仪>X射线荧光测厚仪> BTC-221型β线非破坏式涂镀层测厚仪(膜厚計)
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BTC-221型β线非破坏式涂镀层测厚仪(膜厚計)
产品介绍
规格参数:
1.测量时间:1~999秒,可任意设定 2.zui小解析度:0.01 um 3.本机精确度:±1% 4.测量面积:平面0.8∮mm,桶状物0.4∮mm 6.测量单位:英制公制可切换 7.测量对象:各种极薄涂镀层 8.本体尺寸:280(W)*88(H)*230(D)mm 9.本体重量:3.0kg 10.使用电压:AC110V(220V)/50,60Hz
仪器特点:
1.以对话方式操作,使用简易。 2.有40种记忆校正曲线程序。 3.多点校正(2-10点)可提供更高精确度。 4.不需暖机即可在任何时刻以短校正来得到精确值。 5.可设计特殊校正曲线。 6.已存储的程序,只需一点校正就可得到高精度测量值。 7.已存储的程序,可快速地复制至其它频道。 8.即使已存储的程序中镀层纯度已改变,也可通过密度校正恢复原来的精度。 9.错误的测量值可随时取消。 10.测量间隔时间和统计可随时改变。 11.测量中,可显示测量剩余时间,测定完成后可显示错误值和测量编号,需要的话,计数编号也可显示。 12.有自我诊断功能,开机后会自我检知,发生问题时,使用输出开关,仪器可作自我检查。 13.可打印出客户名称做为表头。 14.管内Φ80mm以上可选购特殊测头
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