Fischer X荧光射线测厚仪

Fischer X荧光射线测厚仪，菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210设计理念

Fischer X荧光射线测厚仪

Fischerscope X-RAY XDL 型X 射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。

Fischerscope X-RAY XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。

Fischer测厚仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210典型的应用领域有：

 测量大规模生产的电镀部件

 测量薄镀层，例如装饰铬

 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

 全自动测量，如测量印刷线路板

 分析电镀溶液

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210设计理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 设计为界面友好的台式测量仪器系列。我们会根据样

品平台的运行模式以及固定或者可调节的Z 轴系统来设定不同型号的仪器以满足实际

应用的需求。

Fischerscope X-RAY XDL210：平面样品平台，固定的Z 轴系统

高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能，可以精-确定位测量位置。通过视频

窗口，还可以实时观察测量过程和进度。配有马达驱动X-Y 样品平台的仪器还配备了

激光点，可以辅助定位并快速对准测量位置。

测量箱底部的开槽专为大而扁平的样品设计，可以测量比测量箱更长和更宽的样品。

例如大型的线路板。