自动反射率测定装置

反射率测量装置

概况
自动反射率测量装置一边变化照到样品的入射角，一边测量反射率以及透过。 用于太阳能电池零件，半导体，薄膜，光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。 入射角通过旋转样品台设定，受光角通过滑动积分球控制。另外，能用非同步方式分别设定入射角和受光角。而且，根据任意设定P偏光和S偏光角度，能研究样品的偏光特性。
可选择用在紧凑的中型机种V-600系列紫外可见近红外分光光度計上，也可以选择用在适合高分辨率，高吸光度测量的V-7000系列紫外可见近红外分光光度计上。

◆装置特点
・ PC直接控制设定角度及光谱测量等条件
・ 测量范围广，从紫外到近红外区域
・ 双光束光学系统，测光稳定性好
・ 可分别控制入射角、受光角
・ 标配偏光测量功能
・ 的样品池支架，样品的装卸简单
◆样品室以及测量机构
自动反射率测量组件由电脑控制样品台和检测部分、自动测量入射角和受光角的变角。可以连续测量数次的入射・受光角的反射率光谱。可以测量透过和反射、可以在同一装置测量透过率和反射率。

◆测量槽型滤波器
自动反射率测量组件标准软件的间隔数据解析程序可以3次元表示波长、测光值以及角度。 下图为3次元表示槽型滤波器的光谱数据。 入射角的不同峰值的位移和峰值强度变化一目了然。


◆规格
▼ARMV-734/ARMN-735　自动反射率测量组件（V-600用）

型号 ARMV-734 ARMN-735 测定波长范围 250～850nm 250～2000nm 测量方式 测量反射率、测量透过率 入射角 5°～ 60°(测量反射率）、0°～ 60°(测量透过) 0　～　85℃（大入射角样品支架、选项) 角度间隔 0.1°间隔 设定方式 同期、非同期（入射部和受光部） 测量偏光 S 偏光( 0°)、P 偏光( 90°)、N 偏光( 45°)、任意设定

※ARMV-734用于V-650,660、ARMN-735用于V-670。
▼VAR-7010/7020/7030　自动反射率测量组件（V-7000用）

型号 VAR-7010 VAR-7020 VAR-7030 测量波长范围 250～900nm 250～2000nm 250～1800nm 测定方式 测量反射率、测量透过率 入射角 5°～ 60°(测量反射率）、0°～ 60°(测量透过) 0　～　85℃（大入射角样品支架、选项) 角度間隔 0.1°间隔 设定方式 同期、非同期（入射部和受光部） 测量偏光 S 偏光( 0°)、P 偏光( 90°)、N 偏光( 45°)

※VAR-7010用于V-7100、VAR-7020用于V-7200、 VAR-7030用于V-7300。