激光共聚焦显微镜 LEXT OLS4500

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模内浇口分离自动化，降低对人的依赖度；传统的塑胶模具开模后产品与浇口相连，需二道工序进行人工剪切分离，模内热切模具将浇口分离提前至开模前，消除后续工序，有利于生产自动化，降低对人的依赖。

LEXT OLS4500是一款集成了激光显微镜和探针扫描显微镜功能于一体的新型纳米检测显微镜，可以实现从50倍到zui高100万倍的超大范围的观察和测量。

主机规格
LSM部分	光源、检出系统			光源：405 nm半导体激光、检出系统：光电倍增管
	总倍率			108～17,280X
	变焦			光学变焦：1～8X
	测量	平面测量	重复性	100x : 3σn-1=0.02μm、50x：3σn-1=0.04μm、20x：3σn-1=0.1μm
		平面测量	正确性	测量值的±2%以内
		高度测量	方式	物镜转换器上下驱动方式
			行程	10mm
			内置比例尺	0.8nm
			移动分辨率	10nm
			显示分辨率	1nm
			重复性	100x :σn-1= 0.012μm、50x：σn-1＝0.012μm、20x：σn-1＝0.04μm
			正确性	0.2+L/100 μm以下（L＝测量长度）
	彩色观察部分		光源、检出系统	光源：白色LED、检出系统：1/1.8英寸200万像素单片CCD
	彩色观察部分		变焦	码变焦：1～8X
	物镜转换器			6孔电动物镜转换器
	微分干涉单元			微分干涉滑片：U-DICR、内置偏振光片单元
	物镜			明视场平面半消色差透镜5X LEXT平面复消色差透镜20X、50X、100X
	Z对焦部分行程			76 mm
	XY载物台			100 x 100 mm（电动载物台）
SPM部分			运行模式	接触模式、动态模式、相位模式、电流模式、表面电位模式（KFM）、磁力模式（MFM）*
			位移检出系统	光杠杆法
			光源	659 nm半导体激光
			检出设备	光电检测器
			zui大扫描范围	X-Y：zui大 30 μm x 30 μm、Z：zui大 4.6 μm
			安装微悬臂	在盒式微悬臂支架上一键安装。使用微悬臂安装位置调整工装夹具预对位，更换支架时无需光学调整。
系统			总重量	约440 kg（不包含电脑桌）
系统			I额定输入	100－120 V/220－240 V、600 VA、50/60 Hz

*该功能为选项功能。