供应X射线光电子能谱仪AXIS ULTRA DLD

供应X射线光电子能谱仪AXIS ULTRA DLD：采用新开发的双模式分析器，从数秒至数十秒的时间内得到数µm以下的高分辨元素象、化学状态象，是真正的成象XPS。

供应X射线光电子能谱仪AXIS ULTRA DLD特点
 空间分辨率小于3μ_m
• 可集成多种分析技术
• 延迟线探测器（DLD）系统
• 平行成像和微区谱图

供应X射线光电子能谱仪AXIS ULTRA DLD采用新开发的双模式分析器，从数秒至数十秒的时间内得到数μm以下的高分辨元素象、化学状态象，是真正的成象XPS。并且，若在图像上以鼠标点击分析位置，则无需移动样品，便可进行zui小至15μm微小区域的多点谱分析。配备新一代DLD检测器，可以超快速分析，实现收谱、成象、快拍（Snap Shot）功能。