X射线光电子能谱仪AXIS ULTRA DLD厂家

X射线光电子能谱仪AXIS ULTRA DLD厂家用X射线激发试样光电子的能谱仪。适用于元素分析，价态和化学结构分析，也可测量电子结合能。

X射线光电子能谱仪AXIS ULTRA DLD厂家特点

• 空间分辨率小于3μ_m
• 可集成多种分析技术
• 延迟线探测器（DLD）系统
• 平行成像和微区谱图

的同轴超低能无阴影单电子源荷电中和器，*解决绝缘体XPS分析
  全自动5轴常中心样品台，实现全自动角分辨XPS分析
*能量分辨率优于 0.45eV（Ag 3d_5/2）
常规分析能量分辨和灵敏度高达0.55eV@1.1Mcps（Ag 3d_5/2）
绝缘体分析的分析能量分辨和灵敏度高达0.68eV@16kcps（PET的C 1s）
 选配单色化Al/Ag双阳极X射线源，实现高能XPS分析
 结合了数据采集和数据处理的Vision软件，可运行于Windows XP/Vista/7等多种平台下，实现各真空室真空度实时显示，操控真空阀门开关，实验条件设定和全自动无人值守分析等强大功能