简介：德国nanofilm公司于1991年开发出了世界上*台Brewster角显微镜(BAM)。近几年来，nanofilm又相继推出了不同用途的BAM产品以及相应的配套仪器。

简介：供应椭偏仪-美国科学计算公司(SCI)供应薄膜测量仪器-美国科学计算公司(SCI)供应薄膜测试仪器-美国科学计算公司(SCI)

简介：激光椭圆偏振测厚仪（ELLIP-EY）适用于高校教学和工业薄膜测试为一款普及型的测试仪器。

简介：专门针对晶硅太阳能电池绒面上的减反膜测量，能够测量薄膜厚度及其光学常数

简介：针对太阳能电池应用，可测量多晶硅/单晶硅绒面表面单层(二层或多层)减反射膜、和玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池。多层膜和非均匀薄膜的分析也非常出色。针对太阳能电池应用的光谱椭偏仪基于*的椭偏光路设...

简介：激光系列产品光谱测试仪器光学精密机械光源光学影像探测器光学元件光通信仪器生物分析仪器

简介：椭偏仪测膜厚的优点?1.测量对象广泛：可测透明膜，多层膜和其他性能不同厚度不同的膜。?2.被测量的薄膜尺寸可以很小。?3.测量速度快。（7-13s检测时间）?4.光学测量方法对样品表面损伤zui小...

简介：光谱椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量设备。由于与样品非接触，对样品没有破坏且不需要真空，使得椭偏仪成为一种吸引力的测量设备。

简介：ELLIP-SR-Ⅰ型产品是集光机电于一体高精度高稳定椭圆偏振光谱仪。从仪器状态调整、参数设置、数据采集一直到数据处理，均通过计算机自动完成，可工作于从紫外至近红外的宽广光谱区，波长连续可调，入射...

简介：椭偏仪SpecELSpecEL-2000-VIS椭偏仪通过测量基底反射的偏振光，进而测量薄膜厚度及材料不同波长处的折射率。SpecEL通过PC控制来实现折射率，吸光率及膜厚的测量。