相关产品分类
- +电子显微镜
- +光学显微镜
- +光学测量仪
- +光学实验设备
- +光学成像设备
相关技术文章
-
面议0
简介:椭圆偏光法是基于测量偏振光经过样品反射后振幅和相位的改变研究材料的性质。光谱型椭偏仪Ellipsometer在全部光谱范围内(而不是特定的波长)测量Psi和Delta,通过构建物理模型对数据进行拟...
上海载德半导体技术有限公司 会员等级: 产地:上海市我要询价 -
面议0
简介:FilmSenseFS-1™多波长椭偏仪采用寿命长LED光源和非移动式部件椭偏探测器,可在操作简单的紧凑型椭偏仪中实现快速和可靠地薄膜测量。大多数厚度0–1000nm的透明薄膜只需要简单的1秒测量...
优尼康科技有限公司 会员等级: 产地:香港特别行政区我要询价 -
面议0
简介:测量时间在亚毫秒量级,可以灵敏地测量亚单分子层的厚度,光学常数,质量分布,组合式多功能椭偏仪是用来研究快速反应动力学的理想工具,它已成为生物传感领域的一种标准技术。
北京欧兰科技发展有限公司 会员等级: 产地:北京市我要询价 -
面议0
简介:AutoSE-一键式全自动快速椭偏仪全自动化&高集成度&可视化光斑操作简单,测试快速,为一般操作工人设计
优尼康科技有限公司 会员等级: 产地:北京市我要询价 -
面议0
简介:智能型多功能椭偏仪是一款针对单层和多层薄膜进行简单,快速,精确表征和分析的工具。多功能性设计,配置灵活,具备多角度测量能力,可方便实现在线与离线配置切换。
优尼康科技有限公司 会员等级: 产地:北京市我要询价 -
面议0
简介:德国nanofilm公司于1991年开发出了世界上*台Brewster角显微镜(BAM)。近几年来,nanofilm又相继推出了不同用途的BAM产品以及相应的配套仪器。
源顺科技仪器有限公司 会员等级: 产地:我要询价 -
面议0
简介:供应椭偏仪-美国科学计算公司(SCI)供应薄膜测量仪器-美国科学计算公司(SCI)供应薄膜测试仪器-美国科学计算公司(SCI)
深圳中电网技术有限公司 会员等级: 产地:我要询价 -
面议0
简介:仪器为光谱型椭偏仪,它的设计紧凑、易于使用,可以精确测量膜层的厚度和折光系数。
科睿技术发展有限公司 会员等级: 产地:我要询价 -
面议0
简介:椭偏仪主要应用在薄膜科学相关的各行业,用来测量薄膜(多层)的厚度、粗糙度以及光学常数(如吸收系数、折射率等)(1)半导体工业的各种薄膜和多层结构。(2)光电子工业的涂层(3)数据存储工业的磁膜(4...
实密国际贸易(上海)有限公司 会员等级: 产地:我要询价 -
面议0
简介:NKD-8000系统综合了光学、电子学和高级分析软件,是目前测定多层薄膜和基片的折射率、吸收系数和厚度zui精确、zui易用的系统
广州益典实验设备有限公司 会员等级: 产地:广州市我要询价