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椭偏仪

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激光椭圆偏振测厚仪(ELLIP-EY)适用于高校教学和工业薄膜测试为一款普及型的测试仪器。

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激光椭圆偏振测厚仪(ELLIP-EY)

适用于高校教学和工业薄膜测试为一款普及型的测试仪器。
 
产品技术参数:
波长 650nm
光源 半导体激光器
固定入射角 70度
测量模式 反射
测量方式 自动完成信号测量
实测光学常数种类复折射率 复介电常数 吸收系数 反射率
膜厚精度 ±1nm
系统定标方式自洽、定标
 
产品用途:
1.各种功能材料的光学常数测量和光谱学特性分析;
2.测量薄膜材料的折射率和厚度;
测量对象包括:金属、半导体、超导体、绝缘体、非晶体、超晶格、磁性材料、光电材料、非线性材料;测量光学常数:复折射率的实虚部、复介电常数的实虚部、吸收系数a、反射率R.


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