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SPECEI-2000-VIS 椭偏仪
面议2086简介：SPECEI-2000是一款应用椭圆偏光原理的台式薄膜测量系统，适用于平面多层膜厚测量，如晶片、玻璃片等。分光椭偏仪可以测量光的多层反射，除了强度之外，也可以测量相对的相位和振幅变化，利用这种技术...
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简介：SPECEI-2000是一款应用椭圆偏光原理的台式薄膜测量系统，适用于平面多层膜厚测量，如晶片、玻璃片等。分光椭偏仪可以测量光的多层反射，除了强度之外，也可以测量相对的相位和振幅变化，利用这种技术...