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LD-1536x-B01 LD TO老化测试系统是独立提供”每颗”待测组件电流及电压源。
具有以下优点:
1. 系统均温度性稳定，机台的均温性< +/-2℃。
2. 实时侦测并记录每颗待测组件是否有”确实”进行老化测试流程, 以利后续追踪。
3. 与自动盘测机之测试板兼容共享。
系统外观 :
1. 烘箱 (深x 宽x 高=135x175x220cm)
2. PC x 1
系统输出入电源 :
1. AC 220/1ψ/30A/50Hz 电源输入(烘箱)
2. AC 220/1ψ/20A/50Hz 电源输入(控制器)
3. AC 220/1ψ/10A/50Hz 电源输入(PC)
系统功能 :
1. 烘箱可设定范围 ~150℃,温度均匀性+/-2℃
2. 可实时监测 Im & Vop, 以确定各通道确实执行预烧
3. 实时监测 Im & Vop 快速曲线显示
4. 每一通道各别均可通过背光 Im 扫描精准量取Ith
系统条件 :
1. 各信道雷射输出电流 200mA±2%
2. 提供 iPD 电压源偏压5~15V+/-5%
系统组成配件 :
1. 高温烘箱 * 1
2. 前后机架 * 1
3. 控制背板 * 24
4. 计算机 * 1
5. 屏幕 * 1
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