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APD-TIA TO老化测试系统

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APD-1120x-B01 APD-TIA TO老化测试系统是独立提供”每颗”待测组件电流及电压源

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APD-1120x-B01 APD-TIA TO老化测试系统是独立提供”每颗”待测组件电流及电压源。

具有以下优点:

1. 系统均温度性稳定,机台的均温性< +/-2℃。

2. 实时侦测并记录每颗待测组件是否有”确实”进行老化测试流程, 以利后续追踪。

3. 与自动盘测机之测试板兼容共享。

系统输出入电源 :

1. AC 220/1ψ/30A/50Hz 电源输入(烘箱)

2. AC 220/1ψ/20A/50Hz 电源输入(控制器)

3. AC 220/1ψ/10A/50Hz 电源输入(PC)

4. 3.3V 电源输出

5. 75V 电源输出

系统功能 :

1. 每路TO-CAN 单备 Vcc_TIA 电压源供电,电压源输出外接TIA

2. 每路TO-CAN 单备 I_APD 电流源供电,电流源输出外接APD 二极管

3. 老化时,设备可对每一通道APD 器件,独立提供Vcc_TIA 所需3.3V+/-5%的恒定电压,Vcc 供电

电流可限流<100mA。若该器件Vcc_TIA 因TIA 故障或其他原因引起引脚短路时,不影响到其

它器件Vcc_TIA 正常供电;且Vcc_TIA 加电必须单独先于I_apd 加电。

4. 可以程控设置APD 的电流范围50uA~200uA+/-5%,电流随烘箱温度从RT 到设置温度变化

时,Iapd 电流变化小于5%。

5. 实时显示要求:Vapd: 0.01V;计算机采样时要求具备间隔固定时间测量并记录Vapd

功能。

6. I_APD 电流输出有防过电流设置,开通瞬间电流过冲小于 <10%设定值。

7. 有延时缓冲加电功能,延时缓冲加电延时时间为10-15 秒(在该时间内,反偏电流由零逐渐增加

到设定值)。关闭设备时具备先关闭I_apd,后关闭Vapd 功能。

8. 计算机控制及测试记录功能要求:

8.1 具备设置I_apd 功能

8.2 具备定期记录所有信道V_apd 功能,间隔时间可设定。

8.3 具备设置批号功能。

8.4 具备设置老化时间功能,时间完成后自动按照顺序关闭Vcc/I_apd

9. 计算机采样时, 具备间隔固定时间读取并记录Icc, 可确保产品 Vcc 是有供电接触正

常的

系统外观 :

1. 烘箱 (=135x175x220cm)

2. PC x 1


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