当前位置:仪器网 > 产品中心 > 行业专用仪器>其它行业专用仪器/仪表>其他行业专用> TEM (透射电镜)
返回产品中心>场发射透射电子显微镜-TEM厂家:日本电子株式会社型号:JEM-2100F技术参数:1.加速电压:200KV;信息分辨率:0.14nm;点分辨率:0.20nm;STEM分辨率:0.2nm;2.样品倾角:+/-40º;放大倍数:60-1000000;电子枪:Schottly场发射电子枪
场发射透射电子显微镜-TEM
厂家:日本电子株式会社
型号:JEM-2100F
技术参数:
1.加速电压:200KV;信息分辨率:0.14nm; 点分辨率: 0.20nm;STEM分辨率:0.2nm;
2.样品倾角:+/-40º;放大倍数:60-1000000;电子枪:Schottly 场发射电子枪。
3.高性能的TEM成像、STEM成像和纳米分析;
4.配备英国Oxford X-MAX能谱仪 。
应用范围:
1.应用于材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体、纳米技术等领域的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析;
2.各种材料微区化学成分的定性和半定量检测;
3.粉末、纳米粒子形态和粒度测定;
4.复合材料界面特性的研究。
表征项目:
可进行TEM形貌 ,HRTEM高分辨 ,选区电子衍射SAED, STEM-HADDF暗场像 , EDX元素定量, Mapping元素分布 , 点扫描、 线扫描 。
样品要求:
粉末、液体样都行;样品量:粉末样≥1mg ,液体样≥1ml 。
*您想获取产品的资料:
个人信息: