公司介绍: NTT-AT有着多年的X射线、极紫外光学配件的研发与销售经验。在范围内,通过与众多来自同步辐射科学,阿秒科学,高强度物理学等领域的科学研究者开展紧密合作,积累了大量的设计与制造技术,其产品在业内享有很高的评价。NTT-AT提供的菲涅尔波带片有着高分辨率,高聚光效率等特点,适合被各种辐射光设施使用。另外,分辨率测试卡被当作业界的标准。不只是学术研究,在X射线的检查装置开发现场也被广泛使用。XUV镜片,XUV滤波片不仅对阿秒科学有着帮助,对下一代的光刻研究也有这重要作用。NTT-AT将在XUV,EUV, X线领域给予客户在研发上的帮助。 产品介绍: 用于UV和VUV光电子能谱应用的聚焦透镜 。 所 有 标 准 和 定 制 的 透 镜 都 能 实 现< 5 μ m 角 分 辨 光 电 子 能 谱 实 验( ARPES)。 特点: 粒径为5亚微米的角分辨光电子能谱(ARPES)实验的必要组件。 可提供标准和定制设计。 电 子 能 谱 实 验( ARPES)。 标准模型 应用: 角分辨光电子能谱(ARPES) AUL-250-190 AUL-320-177 透镜材料 Fused Silica CaF2 透镜镀膜 AR AR 波长 190-210nm 177nm 入射电子束直径 1.7mm 1.7mm 焦距 250mm@190nm
310mm@210nm320mm@177nm 长度 ~145mm ~250mm 光通量 91%@190nm 93%@177nm 聚焦性能 <5μm ~5μm 产品图片
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