Scios 2 DualBeam FIB双束电镜

    Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系统，可为的泛类型的样品，包括磁性和不导电材料提供出色的样品制备和三维表征性能。 Scios 2 DualBeam系统创新性的功能设计，优化了样品处理能力、分析精度和易用性，是满足科学家和工程师在学术和工业环境中进行高级研究和分析的理想解决方案。

    Scios 2 DualBeam可快速轻松的定位制备各类材料的高分辨S/TEM样品。系统配备Thermo Scientific Auto Slice&View软件，可以高质量、全自动地采集多种三维信息。无论是在STEM模式下以30kV来获取结构信息，还是在较低的能量下从样品表面获取无荷电信息，系统可在泛的工作条件下提供出色的纳米级细节。Scios 2 DualBeam可帮助所有经验水平的用户更快、更轻松的获得高质量、可重复的结果，此外，系统专为材料科学中挑战的材料微观表征需求而设计，配备了全集成化、极快速MEMS热台，可在更接近真实环境的工作条件下进行样品表征。

发射源：高稳定型肖特基场发射电子枪

☆  1 keV下电子束减速模式1.4 nm

☆  导航蒙太奇功能，可额外增大视场宽度

离子束分辨率30 kV下3.0 nm

☆  内宽：379 mm

☆  同心旋转和倾斜

☆  电子束流测量

☆  使用Sidewinder HT离子镜筒快速、简便地制备高质量、定位TEM和原子探针样品；
☆  Thermo Scientific NICol 电子镜筒可进行超高分辨成像，满足泛类型样品的成像需求；
☆  各类集成化镜筒内及极靴下探测器，采集优质、锐利、无荷电图像，提供最完整的样品信息；
☆  可选ASV4软件，精确定位感兴趣区域，获取优质、多模态内部和三维信息；
☆  高度灵活的110 mm样品台和内置的Thermo Scientific Nav-Cam相机实现精确样品导航；
☆  专用的DCFI漂移抑制技术和Thermo Scientific SmartScan等模式实现无伪影成像和图形加工；
☆  灵活的DualBeam配置，优化解决方案满足特定应用需求。