X荧光速测仪EDX 9000采用分析仪器行业的极速探测器技术（SDD）可将测试时间降低到1秒。同时EDX 9000还采用了天瑞仪器产品精密的定位系统，可实现图像联动控制，多点连续测试。新增加电动开发的样品腔使操作更加方便，全新设计自动样品平台让准确检测得到保证。

X荧光速测仪

速度zui快ROHS仪EDX9000介绍

EDX 9000采用分析仪器行业的极速探测器技术（SDD）可将测试时间降低到1秒。同时EDX 9000还采用了天瑞仪器产品精密的定位系统，可实现图像联动控制，多点连续测试。新增加电动开发的样品腔使操作更加方便，全新设计自动样品平台让准确检测得到保证。 

X荧光速测仪

参数规格  

1.元素分析范围从硫(S)到铀(U)；

2.元素含量分析范围为1 PPm到99.99%；

3.测量时间：1秒或以上； 

4.分析检测限度达2PPM,zui薄可测试0.005um；

5.多次测量重复性可达0.05％（总荧光强度）；

6.*工作稳定性为0.05％；（总荧光强度）。

仪器硬件配置                                       

1. 极速探测器

2. X 光管

3. 高、低压电源                             

4. 高精密摄像头

5. 数字多道分析器

6. 超大样品腔

7. 准直器自动切换

8. 滤光片自动切换

9. 准直器和滤光片的自由组合

10. 标准样品
X荧光速测仪

仪器特点

1.     快—1秒钟出结果； 

2.     采用行业的极速探测器技术——（SDD）分辨率至125eV；
优势：探测面积大（面积达25mm2）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好，探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低；

3.     采用行业的数字多道技术；
优势：有效提高输出效率，实现超高计数率，保证采集有效计数率可达600KCPS；

4.     采用大功率X光管及*的准直滤光系统；
优势：激发效率更高；

5.光闸系统；
优势：样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度；

6.  精密的定位系统； 

超高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点；

7.     多点测试；

2D全自动移动样品台——可实现图像联动控制，多点连续测试；
超小样品检测——zui小可测到0.2毫米； 

质量保证

1. 乙方对所出售本合同所规定的仪器进行终身维修；

2. 软件免费升级：如有软件升级，乙方将免费提供软件升级，不再收取升级费用；

3. 保修条款

3.1. 仪器设备自验收合格之日起免费保修1年；

3.2. 免费保修期内，维修相关费用全免；

3.3. 保修期结束后，乙方为甲方提供维修服务的资费标准如下：

交通费、住宿费由甲方承担；

资费标准：硬件成本费用——按乙方时价计算

硬件运输费——实报实销

服务费——300元 / 人 / 天

人员交通费——实报实销

人员住宿费用——￥200元/天

4. 技术服务的响应期限：提供zui有效的技术服务，在接到用户故障信息后，4小时内响应；如有必要，12～72个小时内派人上门维修和排除故障。

5. 由甲方人为造成的损伤不在上述保修条款中，具体事例双方协商解决。