PS-200 紫外可见光谱仪

PS-200紫外可见光谱仪可以测量300～850nm的入射、反射和透射光谱，通过电脑软件可以直接读出入射光、反射光、透射光的光谱图。
产地： 美国

用途：

PS-200紫外可见光谱仪可以测量300～850nm的入射、反射和透射光谱，通过电脑软件可以直接读出入射光、反射光、透射光的光谱图。

特点：        

便携坚固的铝制外壳设计        

APOGEE 的余弦校正器，确保低角度光的精确测量        

在标定的测量范围300—1000nm((NIST 可追溯性)内分辨率小于1nm

标准软件特征：    

   发光测量：测量以瓦特每平方米每纳米或摩尔每平方米每秒每纳米为单位；同时显示完整的PPF值。
   照明度测量：测量以流明每平方米每纳米或尺烛光每平方英尺为单位；同时显示完整的LUX值。
   CIE应用：系统显示CIE制定的1931年X、Y色度图。照明模式下显示占有优势的波长和纯度，发光模式下显示颜色温度。
   分光比色计：测量反射光线的颜色。同时系统会显示非自照明的颜色空间图表作为参照，图表对色彩浓度、色差、X、Y、三基色和Delta-E等做了色彩评估和说明，并提供新的Delta-E色彩对比表。
   化学成分测量：测量化学成分的浓度。同时系统会显示浓度标度，或者将之前已经测量好的化学成分浓度与未知的样品做对比。
   UV测量：测量UV能量分布状态。将UVA、UVB、UVC、UVA/UVB比率等以瓦特为单位绘制线形图；提供红斑和黑素原发生作用的最大时间。

技术规格：

产地：美国