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返回产品中心>APD-TIA TO特性盘测系统快速自动测量56颗APD TO
APD-56x-A03 APD-TIA TO特性盘测系统是独立提供待测组件电流及电压, 客户不需另外再接电源。
具有以下优点:
1. 快速56颗自动测量。
2. 测量速度快速
3. 5 pin / 6pin APD-TIA TO 特性测试共享机。
4. 与老化测试机之老化测试板兼容共享。
系统外观 :
1. 标准机架 (深x 宽x 高=75x50x65cm)
2. PC x 1
系统输出入电源 :
1. AC 220/50Hz 电源输入
2. 3.3V 电源输出
3. 60V 电源输出
系统功能 :
1. 提供 TIA 3.3V 电压源, 量取 Icc / Vout+ / Vout-
2. 提供 APD Iapd 电流源, 量取 APD breakdown voltage Vbr (ex: 10uA or 100uA)
3. 提供 APD 0.9 * Vbr, 量取 APD dark current Idark
4. 实测Vcc 通电后, APD 再通电, time delay > 100us,关电源过程先关闭 Vapd 供电,
再关闭 Vcc 供电,实测 Vcc, Vapd 时间 > 100us
5. 开放性产品规格参数设定, 增加生产操作便利性
6. 开放性产品参数校正设定, 增加生产测试操作便利性
7. 量测特性实时显示
8. 测试报表存盘
系统条件 :
1. 提供 TIA 3.3V, 电源精度3.3V+/-5%
2. 提供 TIA 3.3V, Icc 测试精度约0.1mA
3. 提供 APD Iapd, 量取 APD breakdown voltage Vbr, 测试精度约0.01V
4. 提供 APD 0.9 * Vbr, 量取 APD dark current Idark, 测试精度约1nA
5. Vout+ / Vout- 测试精度约0.001V
6. Iapd max. 360uA
7. Idark max. 360nA
8. Vbr max. 55V
9. 属待测组件本身特性而产生的差异，不归责于设备。
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