PXH-200 综合型探针台

PXH-200探针台具有优异的机械性能和高精度测试功能，可搭配不同的测试组件实现多种测试功能，卡盘快速移动功能，可满足客户对整片晶圆高效测试的需求，非常适合研发类实验室的一次性预算购置。
测试方向：DC 直流/（IV、CV）测试、RF 射频测试、FA 失效分析测试、低电流测试、1/f 噪声测试、器件表征测试、老化测试、大功率/大电流及/大电压测试等。