EDX3600H 天瑞仪器EDX3600H X荧光光谱仪

2011年推出的高性能、台式X荧光合金分析仪EDX3600H,融汇*的合金分析技术，配备合金测试效果*的智能真空系统，利用低能光管配合真空测试，可以有效的降低干扰，提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。

　　天瑞仪器公司是专业生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光合金分析仪EDX3600H,融汇的合金分析技术，配备合金测试效果*的智能真空系统，利用低能光管配合真空测试，可以有效的降低干扰，提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。
　　
　　EDX3600H合金光谱仪是天瑞仪器公司为合金测试专门开发的仪器类型。
　　
　　具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。
　　
　　同时具有合金测试、合号分析、有害元素分析，土壤分析仪、贵金属分析等功能。
　　
　　检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等，形态为固体、液体、粉末等。
　　
　　性能特点:
　　
　　高效超薄窗X光管，指标达到*水平
　　
　　针对合金的测试而开发的配件
　　
　　SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
　　
　　天瑞仪器产品—信噪比增强器（SNE），提高信号处理能力25倍以上
　　
　　低能X射线激发待测元素，对Pb、S等微含量元素激发效果好
　　
　　智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
　　
　　自动稳谱装置保证了仪器工作的*性；
　　
　　高信噪比的电子线路单元
　　
　　针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
　　
　　多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制；
　　
　　内置高清晰摄像头
　　
　　液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
　　
　　标准配置：
　　
　　合金测试高效超薄窗X光管
　　
　　超薄窗大面积的*SDD探测器
　　
　　信噪比增强器 SNE
　　
　　光路增强系统
　　
　　高信噪比电子线路单元
　　
　　内置高清晰摄像头
　　
　　自动切换型准直器和滤光片
　　
　　自动稳谱装置
　　
　　三重安全保护模式
　　
　　相互独立的基体效应校正模型
　　
　　多变量非线性回归程序
　　
　　整体钢架结构，力度可靠的保证
　　
　　90mm×70mm的液晶屏
　　
　　外形尺寸：660mm×510mm×350mm
　　
　　样品腔体积：Φ320mm×100mm
　　
　　重量：65Kg
　　
　　技术指标：
　　
　　测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
　　
　　元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
　　
　　同时分析元素：一次性可测几十种元素
　　
　　测量时间：60秒-200秒
　　
　　能量分辨率为：（140±5）eV
　　
　　管压：5KV-50KV
　　
　　管流：50uA-1000uA
　　
　　应用领域：
　　
　　检测以铜合金、铁合金、镍合金为主的任何合金类产品