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X荧光光谱仪的主要特点和用途

2020年03月24日 13:27人气:2786

  【仪器网 行业应用】X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度,可测定元素含量。仪器由激发源和探测系统构成,X射线管产生入射X射线,激发被测样品,产生X荧光,探测器对X荧光进行检测,具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点,被广泛用于元素分析和化学分析,特别是在金属、玻璃、陶瓷和建材的调查和研究等方面。
 
  仪器特点:
 
  1、分析速度快。测定用时较短,10~300秒就可以测完样品中的全部待测元素。
 
  2、X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系,但在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内,这种效应更为显著。
 
  3、非破坏性分析,在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散的现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好。
 
  4、X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上同一族的元素也能进行分析。
 
  5、分析精密度高,含量测定已经达到ppm级别。
 
  6、制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
 
  主要用途:
 
  近年来,X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等领域,特别是在RoHS检测领域应用广泛的仪器。大多数分析元素均可用其进行分析,可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品,分析范围为Be到U。
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