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当前位置:仪器网 > 产品中心 > 行业专用仪器>其它行业专用仪器>电子/半导体> 梅特勒电子天平XS105DU
赛多利斯微量天平CPA2
梅特勒-托利多2014新
XSE105DU 梅特勒-托
梅特勒分析天平XP205D
梅特勒分析天平XP105D
赛多利斯微量天平MSE1
十万分之一/0.01mg产品名称 :XS105DU梅特勒电子天平产品 :梅特勒XS系列产品型号 :XS105DU产品规格:42g/0.01mg,120g/0.1mg产品价格:0.00 产品详细介绍
一、采用高精度、高分辨率后置式感器,获得准确称量结果;二、全自动校准技术(FACT)温度漂移和工厂时间设置触发的内置砝码自动校准,以及全自动线性校准技术,获得称量结果;三、变量程设置(Deltarange)和双量程(Dualrange)设计,满足不同样品的称量需求;四、触摸屏设计(Touchscreen)方便天平称量菜单和参数设置;五、络称盘(Smartgrid)、获得快速、稳定的称量结果;六、易巧称量组件(Ergoclips)满足使用不同去皮容器的称量需求;七、可移动的显示控制终端,方便使用;八、可拆卸的防风罩设计,实现快速清洁;九、内置RS232C通讯接口选件槽,方便连接打印机、脑等外围设备;十、优化天平适应性的称量参数设置、满足不同称量环境要求;十一、具有基础称量、统计称量、配方称量、密度测定等内置应用程序十二、E-loader软件,实现天平软件的即使更新。XS105DU梅特勒子天平 技术指标
型号
XS105DU
大称量值
41/120g
可读性
0.01/0.1mg
大称量值重复性(s)
0.1mg
10g重复性(s)
0.05mg
线性
±0.2mg
1/2大称量1)四角误差
0.3mg
灵敏度漂移
0.0004%
灵敏度温度漂移2)
0.00015%/℃
灵敏度稳定性3)
0.0002%/a
典型称量时间4)
4s/1.5s
接口更新速率
23/s
防风罩有效高度(mm)
235
秤盘尺寸(mm)
78×73
天平外形尺寸(W×D×H)(mm)
263×453×322
半导体电子材料行业用
TS50002硬质泡沫吸水
电子式地基承载力检测
TH212建筑电子测温仪/
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