半导体X-RAY检测设备 X-7900可以检测半导体3um的缺陷、一键测量汽包大小及空洞率，并可以将缺陷几何放大400X，检测图像系统放大2500X。
Product Introduction
| 功能 | CNC程序：自动批量检测样品不同位置 |
| 阵列功能：自动批量检测位置固定、间距相同样品 | |
| 气泡测量：一键测量气泡大小、空洞率 | |
| 长度、宽度测量：测量部分检测区域长度、宽度 | |
| 可视化导航界面：检测位置精准定位 | |
| 模拟颜色：更好观察检测图像 | |
| 优势 | 在线式自动 ON/OFF X-RAY光管批量检测样品 |
| 搭配130KV滨松X-RAY光管，检测精度达3um | |
| 高分辨率数字X-RAY平板，1536*1536px图像更清晰 | |
| 几何放大450x，系统放大2000x | |
| 540*540mm载物台可容纳大量各种尺寸样品 | |
半自动的NG/OK产品检测 | |
| 允许60°倾斜观测 |
Product Introduction
| Model: | X-7900 |
| X-ray 光管类型 | 封闭式 |
| 空间分辩率 | 3um |
| 光管电压 | 130KV（可选90KV） |
| 光管电流 | 300uA |
| 放大倍率 | 几何放大400倍，系统放大2500倍 |
| 数字平板探测器分辩率 | 1536*1536 像素 |
| 数字平板探测器密度值 | 14bit （16348） |
| 图像速度 | 30（FPS) |
| 平板旋转角度 | 60 ° |
| 载物台尺寸 | 540*540mm |
| 载物台旋转 | 360°（可选） |
| X-Y 行程 | 980*980mm |
| 检测范围 | 510*510mm |
| 机器尺寸 | 1350*1110*2000mm（L*W*H) |
| 机器重量 | 1050KG |
| 操作系统 | WINDOWS 10 |
| 电源/功率 | AC110-220V 50-60HZ 1200W |
| 辐射安全测试 | <1 uSV/H |
Product Introduction
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