XRIS Dereo HR高分辨率DR（CMOS）

Dereo HR高分辨率便携式平板探测器

Xris （X-ray Imaging Solutions CO.,LDT）

比利时X射线数字图像公司是欧洲的工业射线数字检测方案的，是比利时发展的50家高科技企业之一，推出的GemX（宝石）系列便携式射线机、Gxc移动式射线机、Dereo（迪瑞欧）射线数字成像系统（DR）。

产品为世界主流的工业无损检测探伤产品，针对航空航天、工、运输设备、机械制造、压力容器、电力、石油化工、能源、安检安监、防爆安保和考古科研领域都有专业的射线检测技术方案和配置。

Dereo（迪瑞欧）系列产品：

高分辨率小型探测器：HR0510；HR1010；

100μm高分辨率探测器：UP2530；UP3643；

高能多用途平板探测器：HE2530；HE4040；

在线式高能平板探测器：RAD2530，RAD4040。

Dereo HR高分辨率便携式平板探测器

适用于航空&航天（NADCAP认证）、石化、机械和电力等的金属材料、非金属材料和复合材料的缺陷检测

主要参数：

探测器类别：CMOS

射线耐压：0-200kV

像素尺寸：48μm/96μm

灰度等级(A/D):14 bits

成像面积：50*100毫米/100*100毫米/100*150毫米

外形尺寸：W127.5×H80×T25.5毫米

W143.5×H107×T25.5毫米

整机重量：0.6公斤/0.9公斤

软件：Xris Maestro V5.1.0

交流电源或自带电池作业（持续工作6~8小时）

特点：

（1）能达到Class B成像等级，满足NADCAP认证要求；

（2）符合国内外NDT标准ISO17636，ASTM-E2698，E2736，E2737，E2597…；

（3）高信噪比，高空间分辨率和精度。

（4）软件界面友好，功能强大，为专业的无损检测软件，适用范围广泛；

（4）体积小，厚度薄，重量轻，结构小巧，方便布置。