高压蒸煮(PCT) 试验箱

高压蒸煮(PCT)试验箱又名高压加速寿命试验机是半导体元器件元器件行业的测试设备

高压蒸煮(PCT) 试验箱又名高压加速寿命试验机是半导体元器件元器件行业的测试设备。用于评估器件在高温，高湿，高气压条件下对湿度的抵抗能力（耐高湿能力），加速其失效过程。
主要技术参数：
名称：高压蒸煮(PCT) 试验箱
型号：LS-PTC-30
温度范围: +100 ℃ ～ +132 ℃( 饱和蒸气温度 )
升温时间：常温RT ～ ＋132℃小于45分钟非线性空载
湿度范围: 99%R.H饱和蒸气.（不可调）
压力范围：
1.要求压力：+0 ～ 200kpa/cm2.=2.0kg/cm2
2.测试条件：温度133℃ 湿度99%R.H饱和蒸气，压力2.0kg/cm2
3.安全压力容量：4kg/cm2＝1个大气压＋3kg/cm2).
循环方式: 水蒸气自然对流循环.
测时间设置：0 ～ 999 Hr.
加压时间：常压/cm2 ～ 2.0kg/cm2约需45分钟.