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高温反偏老化试验系统(HTGB/HTRB/H3TRB)适用范围:适用于F型、G型、B型、TO220、TO3P、TO92、片式、轴向、径向等各种封装分立器件进行高温反偏试验:如各种二极管、三极管、场效应管、可控硅、桥堆等。
产品关键词:高温反偏老化试验箱,光电子器件老化系统,电容器高温老化系统,高温高湿偏置试验系统,光电耦合器专用设备,发光二极恒流高温电流寿命试验,大功率晶体管老化系统,IGBT模块功率循环试验系统,集成电路高温动态老化系统、DC/DC模块高温老化系统、三端稳压器高温寿命老化系统、高温反偏老化系统、HTRB、HTIR、H3TRB、分立器件综合老化系统、二极管恒流老化系统、二极管全动态老化系统、OPLIFE、功率循环、IGBT功率循环老化系统、LED老化系统、电容器高温老化系统、可控硅老化系统、老化板、老化测试座、试验电源 等等
容量
试验电源
驱动检测板
老化板
整机信息
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