气流冲击箱适用于各类半导体芯片、闪存Flash EMMC、PCB 电路板IC、光通讯(如收发器transceiver高低温测试、SFP光模块高低温测试等)、电子行业等进行IC特性分析、高低温循环测试，温度冲击测试，失效分析等可靠性试验。
产品概述
热流仪可以在极短的时间内检测样品因高低温冷热冲击所引起的化学变化和物理伤害，减少测试与验证时间，快速提高产品研发和生产效率。广泛应用于通信、半导体、芯片、传感器、微电子等领域。
运用范围：
适用于各类半导体芯片、闪存Flash/EMMC、PCB 电路板IC、光通讯(如收发器transceiver高低温测试、SFP光模块高低温测试等)、电子行业等进行IC特性分析、高低温循环测试，温度冲击测试，失效分析等可靠性试验。
特点
• 超快速冷热冲击技术
• 自主研发控制系统
• 超快速升降温冷冻系统
• 高效提升生产效率
• 能源节约达30%以上
• 长久低温运行测试零结霜功能
• 可综合自动化线上产品测试
外型尺寸：700mm×900mm×1300mm(W×D×H)
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