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Dimension FastScan 原子力显微镜 布鲁克 原(veeco)Dimension FastScan

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扫描速度的全新诠释,拥有zui高的扫描分辨率,*异的仪器检测性能
Dimension FastScanTM原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM),在不损失Dimension® Icon®超高的分辨率和的仪器性能前提下,zui大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新,从根本上解决了AFM成像速度慢的难题,大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。

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为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求,Bruker开发了这套快速扫描系统,不降低分辨力,不增加设备复杂性,不影响仪器操作成本的前提下,帮助用户实现了利用Dimension快速扫描系统,即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时,无论设置实验参数为扫描速度> 125Hz,还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像,都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。

     高效率  
 
在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍,自动激光调节    和检测器调节,智能进针,大大缩短了实验时间。
自动测量软件和高速扫描系统*结合,大幅提高了实验数据 的可信度和可重复性。
高分辨率     
Fastscan精确的力控制模式提高图像分辨率的同时,延长了探针的使用寿命。
扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像,扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。
低噪音,温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。
在任何样品上均有表现
闭环控制的Icon和FastScan的扫描管*地降低了Z方向噪音,使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm,具有超低的热漂移率,可得到超高分辨的真实图像。
Fast Scan可以对不同样品进行测量,保证高度从埃级到100多纳米的样品高精度无失真扫描。


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