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安东帕AFM原子力显微镜如何提高测量效率

2020年05月13日 14:34人气：815 来源: 安东帕（上海）商贸有限公司 >> 进入该公司展台

AFM原子力显微镜的基本原理是：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。利用光学检测法或隧道电流检测法，可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化，从而可以获得样品表面形貌的信息。

安东帕是一家成熟的开发商、生产商和经销商，主要经营工业用高精度实验仪器和加工测量系统，现在推出一款专为工业用户设计、满足各种需求的 AFM 产品 Tosca 400。它将先进技术与简单易用的操作结合，使得这款 AFM 既适合工业用户，也适合科学学工作者。自动化和工作流导向的控制分析软件植入到机器的每个操作层级，进一步提高了效率并简化AFM 测量操作。

现在安东帕提供快速安全更换探针的工具 —— Probemaster 工具。使用这种探针更换工具，原先复杂的探针操作将成为历史。只需将探针放置在 Probemaster 标记区域的任何位置，即可将其轻松滑入驱动机构。无需再使用镊子来定位细小的探针。由于有足够的空间放置探针，所以经验不足的用户也可以轻松操作Probemaster。探针自动定位到驱动机构中，防止对昂贵探针的损坏。

（本文来源：安东帕（上海）商贸有限公司，转载请注明出处）

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