可同时测量SCI和SCE通过特殊的数字化光泽控制方式同时测量SCI和SCE,仅需4秒即可连续测量
可同时测量SCI和SCE
通过特殊的数字化光泽控制方式同时测量SCI和SCE,仅需4秒即可连续测量。与传统机型不同的是,无需在SCI和SCE模式之间进行频繁的机械切换,这样就提高了工作效率。由于在切换模式时测量区域不会变化,因此可提供稳定的测量数据。
也可轻松获取任意光源下的数据(UV调整)。任意光源下仅需测量已知分光反射率数据的标准荧光样本,即可完成UV校正。UV校正后可获取相应光源下的样本数据。由于无需对UV截止滤光片移动引起的尝试错误进行UV调整,大大缩短了测量时间。
符合JIS、ISO、DIN、CIE、ASTM的di:8°、de:8°(漫射照明、8° 接收)方式
符合ISO、DIN、CIE、ASTM的di:0°、de:0°(漫射照明、0° 接收)方式
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