奥林巴斯DSX510简介奥林巴斯数码显微镜DSX510
TALL数值孔径—低像差物镜
昆山奥巴仪器供应奥林巴斯各类显微镜.通过比当前的数码显微镜数值孔径更TALL、像差更小的物镜、改进后更均匀的照明光源,DSX510系列光学数码显微镜的成像分辨率可与TALL端的光学显微镜媲美。奥林巴斯数码显微镜DSX510的物镜是工作距离很长的,可观察TALL度极不平坦的样品。
![]() IC芯片(物镜NA 0.4) | ![]() IC芯片(物镜NA 0.8) |
![]() 贝氏体钢(物镜NA 0.4) | ![]() 贝氏体钢(物镜NA 0.8) |
BF 明场观察—— 普遍的显微镜观察方法 | DF 暗场观察—— 鉴别缺陷的适合方法。 从样品侧面照明以突出瑕疵。 | MIX (BF + DF) 明场+暗场组合观察—— 同时使用明场和暗场,将明场 观察的简便性和暗场观察对缺 陷的突出效果结合在一起。 | DIC 微分干涉观察—— 检查不平坦表面或 纳米缺陷的理想之选。 | PO 偏振光观察—— 消除基板眩光的重要技术, 以精确地呈现样品的表面特征。 |
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![]() 液晶平板上的ACF各向异性导电胶 (标准观察法) | ![]() (HDR) |
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