AFM-T教学型原子力显微镜采用小型化及可拆卸化设计,方便携带及教学, 激光检测头和样品扫描台集成一体,稳定可靠;精密激光及探针定位装置,更换探针及调节光斑简单方便;
AFM-T教学型原子力显微镜主要特点 AFM-T教学型原子力显微镜应用范围 产品介绍
技术参数
基本工作模式 轻敲模式、RMS-Z曲线测量 选配工作模式 接触模式、F-Z力曲线测量、摩擦力/侧向力、振幅/相位、磁力和静电力 样品尺寸 Φ≤90mm,H≤20mm 扫描范围 XY向20um,Z向2um 扫描分辨率 XY向0.2nm,Z向0.05nm 样品移动范围 0~13mm 光学参数 光学放大倍数4X,光学分辨率2.5um 扫描参数 扫描速率0.6Hz~4.34Hz,扫描角度0~360° 扫描控制 XY采用18-bit D/A,Z采用16-bit D/A 数据采样 14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样 反馈方式 DSP数字反馈 反馈采样速率 64.0KHz 通信接口 USB2.0/3.0 运行环境 WindowsXP/7/8/10操作系统
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