Innova-IRIS原子力-拉曼显微镜联用系统、完整的TERS系统Innova-IRISInnova-IRIS结合了业界性能的AFM和布鲁克的针尖增强拉曼光谱（TERS）探头，能提供一整套完备、有保障的TERS解决方案
Innova-IRIS 原子力-拉曼显微镜联用系统、完整的TERS系统
Innova-IRIS
Innova-IRIS 结合了业界性能的AFM和布鲁克的针尖增强拉曼光谱（TERS）探头，能提供一整套完备、有保障的TERS解决方案。它与 Renishaw inVia 显微拉曼系统融合，组成一个高效且集成的测量平台，同时保留了每个独立组件的功能， 可用于微、纳米尺度各类性质成像，可将 AFM 的应用扩展到纳米光谱及纳米化学分析领域。
联合、原子力显微镜和拉曼显微镜
提供高性能的TERS和完整的SPM功能。
专属、TERS 探头
零光谱干扰，实现高空间分辨率成像和高性能TERS功能。
优化、硬件和软件
降低传统TERS操作的复杂性。
特征：专为TERS设计
文献研究表明光路离轴反射结构是充分考虑探针阴影和极化效应条件下，实现光捕获的解决方案。Innova-IRIS 采用新型光学架构，激发光从探头的正面进入探针-样品交汇点，提供了理想的无障碍物光学路径。
布鲁克创新的样品扫描 AFM 结合Renishaw InVia 显微拉曼系统，通过联合研发设计，在扫描过程中集成了的光学"热点"跟踪方式，在拉曼较长信号积分时间内，可以保持探针的完整性和精确定位，能满足TERS成像的严苛要求。
关联的互补数据：
Innova-IRIS 与 Renishaw InVia 的集成保留了 AFM 和拉曼显微镜的全部功能。单独使用时，可以采用相对各自独立的实时控制和数据分析软件。通过系统集成，可实现互补的纳米级形貌、热、电学和力学信息测量的整合。
使用 Innova-IRIS 和 inVia 拉曼系统获取的石墨烯AFM 形貌（左）和拉曼化学成像（右图）。
配件：
布鲁克 AFM 探针
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