大豆表型检测仪 TPD-BX-1

大豆育种研究中，大豆表型参数和大豆产量、品质、抗逆性等密切相关，进而获取这些参数也显得尤为重要，因此我们推出了大豆表型检测系统

大豆育种研究中，大豆表型参数和大豆产量、品质、抗逆性等密切相关，进而获取这些参数也显得尤为重要，因此我们推出了大豆表型检测系统。此大豆表型检测仪可以测量大豆夹角、茎粗、总粒数和千粒重等指标，这些高通量表型参数为大豆品种筛选、产量预测、基因定位、功能解析等方面发挥着至关重要的作用。

功能特点：

• 原位非破坏性测量：可实现大豆植株非破坏性的测量，便于对大豆各个生育时期夹角的动态研究。
• 数据互联互通：轻量级移动端进行数据采集，数据时采时分析。各模块数据高效实时互联互通，提高数据的高度融合性。
• 品种名称批量添加：可批量添加品种名称，解决用户材料多，单个输入较为繁琐的问题。
• 比例尺自动矫正：任意手机可拍照，且拍摄成像视角可以被自动矫正，避免了拍照变形误差。
• 智能修正：触摸屏幕可进行修正，使结果更精准，可达99%。
• 数据查看：数据查看多样化，拍照分析后即可查看结果，也可在历史记录中查看数据报表。
• 数据导出：支持数据修正、查询、编辑和导出，数据可导出Excel格式，并可分享至微信、QQ或者钉钉，便于多应用方式查看数据。

大豆夹角测量

大豆数粒