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DSA8300 数字采样示波器

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DSA8300 系列提供了小于 100 fs 的本底抖动,可以实现异常准确的器件检定,全面支持光通信标准、时域反射计和 S 参数。DSA8300 数...

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为挑战性的高速检定测试提供秀的信号保真度

DSA8300 系列提供了小于 100 fs 的本底抖动,可以实现异常准确的器件检定,全面支持光通信标准、时域反射计和 S 参数。DSA8300 数字采样示波器为 155 Mb/s 至 40 Gb/s 及更高速率的数据通信提供了完整的高速物理层测试平台

功能

优势

电模块信号测量准确度:
  • 超低系统抖动(典型 <100 fs)
  • > 70GHz
<100 fs 本底抖动允许对高位速率(40 和 100 (4´25) Gb/s)设备进行检定,典型 <5% 的信号单位间隔由测试仪器所使用。70 GHz 带宽允许对高位速率信号进行完整检定(数据速率 28 Gb/秒的 5 阶谐波和数据速率 >45 Gb/秒的 3 阶谐波)。
所有带宽上系统噪声业内:
  • 600 µV (450 µV 典型)@ 60 GHz
  • 380 µV (280 µV 典型)@ 30 GHz
降低仪器在采集高位速率、低幅度信号时的噪声量,避免可能带来附加抖动和眼图闭合的其他噪声。
单台主机内最多 6 个通道同时采集 <100 fs 抖动。 多个差分通道的高保真采集可进行通道间损伤测试,提高多个高速串行通道系统的测试吞吐量。
光模块支持从 155 Mb/s 到 100 Gb/s (4x25) 以太网所有标准速率的光一致性测试。 为单模和多模光标准提供经济实惠、功能多样的光测试系统,从 155 Mb/s (OC3/STM1) 到 40 Gb/s(SONET/SDH 和 40GBase 以太网)和 100 Gb/s 以太网(100GBase-SR4、-LR4 和 ER4),波长 850、1310 和 1550nm。
优异的采集吞吐量,采样率 300 kS/s。 通过优异的系统吞吐量,可将制造或设备检定测试时间缩短 4 倍。
能够将采样器放到被测设备 (DUT) 的附近。 远程采样头降低因 DUT 至仪器之间的电缆和夹具造成的信号劣化,简化测试系统的反嵌。
独立的已校准通道相差校正。 双通道模块中具有集成的已校准通道相差校正,消除时滞,增强多通道测量的信号保真度。
模拟带宽 采样率 记录长度 模拟通道
70 GHz 电接口,80 GHz 光接口 300 kS/s 50 点 - 16,000 点(IConnect® 为 1M 点,80SJNB 为 10M 点) 取决于使用的采样模块,最多 8 个通道
产品技术资料 探头 说明                  
DVT30-1MM GigaProbe

30 GHz TDR 探头由 GigaProbes 提供。

        
查看产品技术资料 P8018 手持式 TDR 探头,无源;20 GHZ,单端,50 欧姆,SMA 连接器带 20 GHZ SMA 电缆;设计为配合使用 80A02 EOS/ESD 保护模块;本产品包含一致性声明         
查看产品技术资料 P80318 探头包,18GHz 100 欧姆差分手持探头         

Low Voltage Single Ended Probes

产品技术资料 探头 说明                  
查看产品技术资料 P6150 无源探头:10X/1X,9GHz,12.5V 低电容         

Low Voltage Differential Probes

产品技术资料 探头 说明                  
查看产品技术资料 P7330

探头;差分;3.5 GHZ 带宽,+/-1.75 V 差分,大动态范围,+5V -4V 共围,输入处 2.3 MV RMS 噪声,5X 衰减 - 可追溯校准标准证明

        
查看产品技术资料 P7350

差分探头,5 GHZ

 


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