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NFC Inline 在线性能测试仪

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CISC NFC Xplorer Inline是生产过程中对 NFC Inlay和标签进行高速测试的设备

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CISC NFC Xplorer Inline是生产过程中对 NFC Inlay和标签进行高速测试的设备。它在生产过程中从头到尾为产品提供质量保证，包括性能测试和编码。NFC Xplorer Inline可使用自带GUI，也可通过串行接口、触发口和 API 集成到装配设备中。

  • 在创建自己的性能矩阵时更具灵活性
  • 更好的分析，同时节省时间和成本
  • 高速测试13.56 MHz 的性能（> 100k UPH）
  • 提高产品的整体质量管理水平
  • 生产中全面
  • 支持各种 NFC 标签类型
  • 支持安全性、加密（SAM，TAM）




  1. 变化的H-field场强
  2. 提供了一个完整的解决方案包括支持Class 1-6标签
  3. 用于编码和个性化的读/写模式
  4. 测试标签操作场强范围
  5. 用于外部出发的GPIO
  6. 用于通信的串行接口

  7. 支持标准：

  • ISO/IEC 14443A and B
  • ISO/IEC 15693

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