x射线衍射检测仪

X射线衍射仪，用于材料晶体结构的表特征分析检测，晶格常数的精密化、结晶度的计算、晶体粒径和晶格应力的计算、进行软件解析晶体的结构。可能直接分析出岩石的矿物组成及相对含量，

并形成了定性、定量的岩性识别方法.

还可以分析天然或是人工合成的无机或是有机材料。在材料学、物理学、化学、化工、聚合物、冶金、矿物、催化剂、钛白粉、水泥、制药、塑料,等众多项目和行  

业中都有广泛应用，是科技院校和材料研究、生产和科研机构、厂矿等单位的分析设备。