当前位置：仪器网 > 产品中心 > 化学分析仪器>X射线仪器>X荧光光谱、XRF（能量色散型X荧光光谱仪）> 考古检测X荧光光谱仪
返回产品中心>产地 上海 是否进口 否 货号 35921 型号 BOEN-35921
技术指标：
| 测量元素范围 | 从钠（Na）至铀（U） |
| 元素含量分析范围 | 1ppm—99.99% |
| 分析精度 | 0.05% |
| 同时分析元素 | 几十种元素同时分析 |
| 测量镀层 | 镀层厚度测量薄至0.01微米 |
| 测量对象状态 | 粉末、固体、液体 |
| 测量时间 | 60s—200s |
| 管压 | 5KV—50KV |
| 输入电压 | AC 110V/220V |
| 消耗功率 | 200W |
| 环境温度 | 15-26℃ |
| 相对湿度 | ≤70% |
| 超大抽真空样品腔 | 600*600*1000mm3 |
| 重 量 | 280KG |
仪器介绍:
新型仪器在测试陶瓷的同时亦可以测试青铜器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、贵金属（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化学成份和金属镀层厚度，做到一机多用，是古文物检测的科学检测仪器。中国历史博物馆、中国收藏家协会等古文物收藏部门都是其用户。
标准配置：
电制冷UHRD探测器
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍
可自动切换型准直器和滤光片
光路增强系统
内置高清晰摄像头
加强的金属元素感度分析器
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
面光源
放大电路
高低压电源
X光管
多变量非线性回归程序
相互独立的基体效应校正模型。
三重安全保护模式
应用领域
古陶瓷
古青铜器
古首饰
镀层测厚
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