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X荧光光谱测厚仪 XTU-50A

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产品类型:能量色散X荧光光谱分析仪产品名称:镀层测厚仪产品型号:XTU-50A产品优势:XTU-50A是一款设计结构紧凑,模块精密化程度的镀层测厚仪,C型开槽设计样品腔,让其满足了既可测量超微小样品的检测,同时还可满足超过样品腔尺寸的大工件测量

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产品类型:能量色散X荧光光谱分析仪

产品名称:镀层测厚仪

产品型号:XTU-50A

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产品优势:

XTU-50A是一款设计结构紧凑,模块精密化程度的镀层测厚仪,C型开槽设计样品腔,让其满足了既可测量超微小样品的检测,同时还可满足超过样品腔尺寸的大工件测量。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

1)搭载微聚焦加强型X射线发生器和的光路转换聚焦系统,最小测量面积达0.03mm²

2)拥有无损变焦检测技术,手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-30mm

3)核心EFP算法,可对多层多元素,包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析(钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精准检测层Ni和第三层Ni的厚度)

4)配备高精密微型移动滑轨,可实现多点位、多样品的精准位移和同时检测

5)装配高效率正比接收器,即便测量0.03mm²以下的样品,几秒钟也可达到稳定性

6)可同时分析23个镀层,24种元素,测量元素范围:氯Cl(17)- 铀U(92),涂镀层分析范围:氯Cl(17)/锂Li(3)- 铀U(92),涂镀层检出限:0.005μm

7)人性化封闭软件,自动判断故障提示校正及操作步骤,避免误操作

8)标配为2个准直器任意选择一种,最小测量面积可达0.03mm²

9)配有微光聚集技术,最近测距光斑扩散度小于10%


仪器配置:

1. 微聚焦X射线管:高稳定性X射线发生器

        —铍窗口,油绝缘,气冷式,辐射安全电子管屏蔽

        —50kV,1mA,高压和管流设定为应用程序提供更好的性能

        ——符合DIN ISO 3497、DIN 50987和ASTM B 568射线标准,如有特殊要求,也可协商定制

2. 接收器:高效率正比计数管

        —窗口面积≥150mm²

3. 光路转换器

        —φ0.5mm,φ0.2mm,两个准直器任意选择一种

4. 定制专享高敏感镜头

        —1/2.7”彩册CCD高敏感可变焦镜头,全局快门,有效像素:1280*960,光学38-46X,数字放大40-200倍  

5. 恒压恒流快门式光闸

    —拥有高压电源紧急自锁功能,带给您更安全的防护

6. 移动平台

        —手动高精密XY移动滑轨,移动范围50mm*50mm,精度0.01mm

7. 全新一代高压电源

—性能稳定可靠,高达50W的功率实现更高的测试效率

8. 对流通风式过滤风冷

—的散热系统配备,仪器即便全天候开启,都可保持恒温恒效

9. 随附标准片

        —免费提供十二元素片、五选二标准片( Ni/Cu 2um、Ni/Fe 5um、Au/XX 0.05um、Ag/XX 0.5um、Cr/XX 0.15um)、其他规格(选配)

10. 其他配置

        —电脑一套、打印机、附件箱、电镀液测量杯(选配)



技术参数:

1. 元素分析范围:氯(Cl)- 铀(U)

2. 涂镀层分析范围:氯(Cl)/锂(Li)- 铀(U)

3. 厚度检出限:0.005μm

4. 成分检出限:1ppm

5. 最小测量直径0.2mm(最小测量面积0.03mm²)

6. 对焦距离:0-30mm

7. 样品腔尺寸:500mm*360mm*215mm

8. 仪器尺寸:550mm*480mm*470mm

9. 仪器重量:45KG

10. XY轴工作台移动范围:50mm*50mm

11. XY轴工作台承重:5KG

12. 多元迭代EFP核心算法(号:2017SR567637)

专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上,计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法,结合的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用:如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂镀层应用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金镀层应用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用:如NiP/Fe,通过EFP算法,在计算镍磷镀层厚度的同时,还可精准分析出镍磷含量比例。

重复镀层应用:不同层有相同元素,也可精准测量和分析。

如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,层Ni和第三层Ni的厚度均可测量。


仪器参数:

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