FEIScios是一款高分辨率DualBeam分析系统，能为包括磁性材料在内的众多样本提供二维和三维性能
FEI Scios是一款高分辨率DualBeam分析系统，能为包括磁性材料在内的众多样本提供二维和三维性能。FEI Scios 的功能可提高通量、精度与易用性，非常适于学院、政府和工业研究环境中的纳米量级研究与分析。
FEI Scios核心技术。透镜内FEI Trinity能够同时收集所有信号，既节省了时间还能形成鲜明的对比度，从而有助于采集尽可能多的数据。透镜下同心后散射检测器能提高效率，使您可以根据信号的角分布选择信号，从而轻松分离材料和形态对比度，即使着陆能量为 20 eV 也是如此。
生命科学应用
有效的生物成像需要使用能够支持众多不同应用且不会降低对比度和分辨率的多功能设备。FEI Scios是一款易于使用的仪器，能使您的众多不同应用和工作流更具灵活性，功能更强大，而且借助高效和增值工作流， Scios能让您在短时间内获得准确的结果。
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