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光学缺陷检测仪

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系统特点及关键指标本系统方案的主要特点及关键指标如下

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系统特点及关键指标

本系统方案的主要特点及关键指标如下。

自动化检测系统,整体系统基于可编程操作的基础构架,对同一规格产品,完成编程录入后,用户只需输入规格型号,即自动完成产品检测。

高精度、高分辨率光学成像系统,采用线阵扫描、面阵观察相结合,线扫描采用TDI相机分辨率达到16K,面阵相机采用5000万像素彩色相机,成像分辨率*高可达1μm

高精度、高平稳性运动机构平台,具备高刚性、高运动控制精度,在1-2μm光学分辨率状态下可达到140mm/s的扫描运动速度;

智能检测算法,结合图像处理及深度学习技术,对产品线路缺陷进行智能化、高准确率检测,实现缺陷检测准确率>99%,并具有缺陷学习、分类的功能。

系统各部分设计

 龙门式双驱直线平台


为实现检测系统与产品之间的高精度扫描运动,采用龙门式双驱直线电机平台,产品静止不动,由检测系统相对产品进行运动实现图像扫描、成像观测。主要特点:1)采用花岗石作为运动平台的底座及骨架,保障系统的刚性、隔振及稳定性;2Y方向采用水平安装的直线电机,X1X2为两套平行安装的直线电机直线模组,两组模组同步驱动实现高精度的直线位移;3XY方向各安装一套光栅尺系统,用于产品图像采集的同步、实时运动坐标的读取;4Z方向采用“丝杆+导轨+伺服电机+光栅尺”的结构,与激光测距传感器一起形成闭环控制,实现自动聚焦调节。本系统直线运动平台基于Hiwin直线电机、导轨系统进行定制设计。图3为敝司之前检测设备项目所用龙门式双驱直线电机平台,达到了300mm/s运动速度、2μm重复定位精度。

控制平台

采用以色列ACS独立式控制器,如图4。由EtherCAT主站MPU(运动处理器)和在每个EtherCAT从站上的伺服处理器(SPil)构成。MPU可以管理至多达64个同步轴的系统,执行高水平任务,比如通讯ACSPL+PLC编程,诊断I/O控制和轨迹的规划。在每个节点上的SPii浮点处理器执行时控制算法*多到4个轴,每个轴的采样和刷新率都是20KHZ。开放式的EtherCAT风格,能支持第三方的驱动和IO,提供全面的软件工具以便分析、整定和诊断,强大的ACSPL+多线程运动语言,EtherCAT网络的扫描周期为2KHZ(或者5KHZ),其中所有ACS驱动器的伺服周期为20KHZ


4  ACS运动控制器

ACS 运动控制器的特性:

1) 模块化,通过EtherCAT通讯可扩展的解决方案;

2) 多轴同步*多64轴;

3) 驱动器电压12V560V

4) 电流从1.25 /2.5 45/90A

5) 应用NanoPWM驱动器;

6) 20kHZ伺服周期对应位置,速度和电流环;

7) *大5kHZ的轨迹;

8) 轴数量不影响控制伺服周期。

ACS 运动控制器的性能指标:

1) 多轴点对点,jog跟随运动和连续点位运动;

2) 以圆弧和直线转角处理的带速度前瞻的多轴路径规划用于*佳的精度和产量;

3) PVT三次样条插补的任意轨迹;

4) 三阶运动规划(S型曲线)

5) 飞行运动中改变目标位置和运动参数;

6) 正逆解运动解耦和坐标变换;

7) 位置和速度锁定的主从运动;

8) (电子齿轮/CAM)和虚拟主轴;

9)用户界定单位值;

1064位浮点数运算;

11)动态误差补偿(2D&3D)

12)复杂的数学表达式和丰富的逻辑,统计,计算,三角函数和信号处理函数;

13)用户定义自动执行程序(软件编程中断),逻辑条件满足时即刻触发;

14)自定义各种安全相关或者系统错误的响应;

15)采集速率达到20kHz的实时数据采集。




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