胶体系统的精确测量
NANOTRAC WAVE II粒度分析仪中的zeta电位测量采用了与测量纳米粒度分布相同的频率功率谱方法。同样稳定的光学样品接口意味着无需调整。在测量粒径时，收集反向散射和激光放大的检测信号，应用电场的快速排序可防止电渗。光学探针表面被涂覆以提供与样品的电接触。使用两个探针，一个用于确定滑动面上粒子电荷的极性，另一个用于测量粒子在电场中的迁移率。极性是在脉冲电场中测量的，而迁移率是在高频正弦波电场激励下测量的。zeta电池的两侧有两个探测探针，用于探测极性和迁移率。 根据线性频率功率谱分布（PSD），可以计算与颗粒浓度成正比的负载指数（LI）。负载指数值为总散射提供了一个单一数字，可用于确定微粒的迁移率（微米/秒/伏/厘米）和微粒极性（正负）。 测量迁移率和zeta电位首先测量PSD，并在激发关闭的情况下确定LI。然后在高频正弦波打开的情况下测量PSD，并取一个比率。通过测量脉冲直流激励前后的LI来确定极性。对于带正电的探针表面，激发后的LI除以激发前的LI的比值小于1表示正极性（浓度降低），大于1表示负极性（浓度升高）。
Mobility = C x (ratio of [PSD(on) – PSD(off)] / LI(off)
Zeta电位∝ 流动性
多功能性是动态光散射 (DLS) 的一大优势，这使得该方法适用于研究和工业中的各种应用，例如药物、胶体、微乳液、聚合物、工业矿物、油墨等等。
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| 计算方法 | 背散射激光放大散射参考方法 |
| 计算模型 | FFT功率谱 |
| 测量角度 | 180° |
| 测量范围 | 0.3 nm - 10 µm |
| 样品池 | NANOTRAC WAVE II：各种样品池选项 NANOTRAC WAVE II Q：各种比色皿 |
| Zeta电位分析 | 是 |
| Zeta测量范围（电位） | -200 mV - +200 mV |
| Zeta测量范围（尺寸） | 10 nm - 20 µm |
| 电泳流动性 | 0 - 15 (µm/s) / (V/cm) |
| 电导率测量 | 是 |
| 电导率范围 | 0 - 10 mS / cm |
| 分子量测量 | 是 |
| 分子量范围 | <300 Da -> 20 x 10^6 Da |
| 温度范围 | +4°C - +90°C |
| 温度精度 | ± 0.1°C |
| 温度控制 | 是 |
| 温度控制范围 | +4°C - +90°C（样品池） +4°C - +70°C（PE比色皿） +4°C - +90°C（玻璃比色皿）。 |
| 滴定法 | 是 |
| 可重复性（尺寸） | =< 1 |
| 可重复性（Zeta） | + / - 3% |
| 样品体积大小测量 | 50 µl - 3 ml |
| 样品体积Zeta测量 | 150 µl - 2 ml |
| 浓度测量 | 是 |
| 样品浓度 | 高达40％（取决于样品） |
| 载体流体 | 水、极性和非极性有机溶剂、酸和碱（与WAVE II Q的比色皿不同）。 |
| 激光器 | 780纳米，3毫瓦；2个带泽塔的激光二极管 |
| 湿度 | 90 %不凝结 |
| 设备尺寸（宽x高x深） | 355 x 381 x 330 mm |
从功率谱迭代粒度计算
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