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nGauge便携式原子力显微镜

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nGauge原子力显微镜作为一台单芯片(Single-Chip)AFM,是加拿大滑铁卢大学(DARPA联合项目)近十年的研发成果。Single-Chip技术通过CMOSMEMS工艺将AFM的所有组件(精细XYZ运动和纳米级感测)集成到单个1mm x 1 mm的芯片上,减少了对大功率及垂直检测激光对准设备的需求,极大提升了设备自身的抗震性能、扫描速率、扫描精度,实现经济、高效、便捷的原子力扫描。

可以用于纳米级三维结构的量测,表面粗糙度的检测,膜厚、台阶测试,相位测试等。

主要功能
形貌表征:三维结构量测:Z>1nm
台阶高度:1nm~10um
表面粗糙度检测:>1nm
相位测试



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  • 南京大学
  • 同济大学
  • 中科院微电子研究所
  • 合肥物质研究院
  • 复旦大学
  • 东华大学
  • 天津大学




相关文献


  1. N. Sarkar and R. Mansour, “CMOS-MEMS atomic force microscope,” Transducers 2015
  2. D. Strathearn, G. Lee, N. Sarkar, M. Olfat and R. R. Mansour, "A distortion-free single- chip atomic force microscope with 2DOF isothermal scanning," 2015 Transducers - 2015 18th International Conference on Solid-State Sensors, Actuators and Microsystems (TRANSDUCERS), Anchorage, AK, 2015, pp. 2113- 2116.
  3. N. Sarkar, D. Strathearn, G. Lee, M. Olfat, and R. R. Mansour, “A 0.25MM3 ATOMIC FORCE MICROSCOPE ON-A-CHIP,” MEMS 2015, pp. 732–735, 2015.




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