自1998年以来，NT-MDT已成功地将AFM与光学显微镜和光谱技术相集成
自1998年以来，NT-MDT已成功地将AFM与光学显微镜和光谱技术相集成。支持包括HybriD ModeTM在内的30多种基本和AFM模式，可提供有关样品表面物理性质的广泛信息。 AFM与共焦/荧光显微镜的集成提供了有关样品的更多信息。
相同的样品区域同时测量的AFM和拉曼图可提供有关样品物理性质（AFM）和化学成分（Raman）的补充信息。
NTEGRA Spectra II借助增强拉曼散射（TERS），可以进行纳米级分辨率的光谱学/显微术。特制的AFM探针（纳米天线）可用于TERS，以增强和定位附近纳米级区域的光。
这种纳米天线充当光的“纳米源”，从而提供了光学成像的可能性，其分辨率小于衍射极限（max〜10 nm）。扫描近场光学显微镜（SNOM）是获得旋光性样品的光学和光谱图像的另一种方法，其分辨率受探针孔径大小（〜100 nm）限制。
NT-MDT 原子力显微镜系统光路图
所有可能的激发/检测和TERS的解决方案
应用
CdS纳米线通过导电聚合物纳米线与金属电极连接。 AFM探针借助观察显微镜定位在结构上。 由于AFM探针的形状，激光可以直接定位在顶点上。
高分辨率AFM图像可提供有关样品形貌的信息。 从同一区域获取的拉曼图和发光图显示出纳米线化学成分的差异。
光学图片
原子力显微镜扫描图 拉曼扫描图 荧光扫描图 拉曼谱
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