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KIF-20-UW 激光干涉仪

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---:韩光兵
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光学测量装置

KIF-20-UW

 
 

KIF-20-UW激光干涉仪是牛顿评价类型的干涉仪系统。该系统适用于快速质量检查和对量产透镜的数控管理。

  • 概览
  • 技术规格
  • PDF版产品信息
  1. 操作简便
    将与被检镜片相匹配的镜片适配器安装到载物台上,只需从上面放上被检镜片,即可进行检查。特别适用于相同规格镜片的批量生产现场。

  2. 采用新型参照镜台座
    采用了带槽式新型参照镜台座,可以防止装拆参照镜时的跌落损伤,并且参照镜的更换也变得简单省时,有益于提高生产效率。

  3. 稳定的检查测定
    带有防振功能的高刚性干涉仪本体,充分考虑到生产现场的使用环境,具有优异的环境适应性和操作性。


KIF-FIA主画面

参照镜的装拆

激光干涉仪(上置式) KIF-20-UW:规格
测定方法 斐佐型干涉仪
口径 ø60(使用选配件时ø6~ø60)mm
参照镜表面精度 λ/20(球面及平面)
光源 He-Ne激光(632.8 nm)2级激光
映像输出 USB2.0数字输出
焦点
调整 有(光斑重合法)
倍率 数码变焦(1~3倍)
主体外形尺寸 干涉仪 360(W)×260(D)×933(H) mm (PC除外)
光源装置 195(W)×365(D)×98(H) mm
主体重量 干涉仪 约22 Kg (PC除外)
光源装置 约5.0 Kg
电源电压 AC100-120 V / AC200-240 V、50-60 Hz
工作距离 zui大360 mm(因参照镜、被检物不同而异)
干涉条纹观察 将电脑用作显示器
相位计算方式 干涉条纹的形状(条纹二值化方式)
干涉条纹数值化软件的主要功能 ・干涉条纹全屏显示功能
・干涉条纹目视确认图表显示功能
・调整图象显示功能
・P-V、RMS、Pwr、AS、Coma、Sa3的显示功能
(不能进行±判别及角度判别)
・规格值设定及合格判断功能
・影面设定功能
・单一测定、连续测定功能
干涉条纹测定时的再现性 PV值0.1 λ以下 ※基于本公司的测定条件。
干涉条纹测定时间 约1.0秒(根据电脑性能而定)
选配件 ・测长装置
・带槽嵌入式连接器(螺口式参照镜用)
・干涉条纹解析装置(KIF-FU60/KIF-FSA)
・参照镜(RF60、F0.6、F0.7、F1.0、F1.5、F2.0、F3.0、 F4.0、F6.0、C150、C300、C490、V520、V670、V750、 APC60-15)*1
・衰减过滤器(AF60)
*1: 部分参照镜需要配合带槽式连接器使用。


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