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KIF-402 激光干涉仪

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---:韩光兵
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竭诚欢迎广大新老客户前来咨询洽谈谈,本公司将以zui热忱的服务和*惠的价格回馈大家.

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光学测量装置

KIF-402

 
 

KIF-402是一款用于平面、价格低廉、高性能、对应4英寸直径的立式激光干涉仪。

  • 概览
  • 技术规格
  • 选配件
  • PDF版产品信息
  1. 小型、操作简便
    小型、占地空间小,适于在生产现场使用。可以快速进行被检物的放置和调整等。

  2. 测定口径2级切换
    可以切换到适合硬盘底板尺寸的倍率,所以可以全面测定硬盘的测定面。

  3. 丰富的选配件
    可以使用各种ø102参照镜(Zygo台座互换)。如果安装了干涉条纹解析装置(KIF-FU100),还可进行高精度条纹解析。

  4. 支持口径ø152
    如果安装选配件中的孔径转换器,还可以转换为6英寸口径。

平面高精度激光干涉仪 KIF-402:规格
项目 KIF-402
测定方法 斐佐型干涉方式
口径 ø102mm(使用选配件时ø60-ø152 mm)
参照表面精度 平面λ/20、λ/30
测定口径 ø102、ø71(本体2级切换)mm
倍率 1×、1.4×(本体2级切换)
光源 He-Ne激光(632.8 nm)激光(2级激光产品)
电源 AC100 V 50/60 Hz
机身外形尺寸 300(W)×400(D)×790(H)mm
机身重量 约35 kg
标准附属品 9型TV显示器、2轴调整载物台

  • 视频打印机
  • 防振台
  • 衰减过滤器
  • 透过测定台
  • 支架
  • 4英寸-6英寸孔径转换器
  • 透过测定用平面镜(λ/20)
  • 干涉条纹解析装置(KIF-FU100)
  • 参照镜(口径4英寸、λ/15)(F0.6、F0.7、F0.8、F1.5、F3.0、F6.0)
  • 参照平面(口径4英寸、λ/20或者λ/30)
  • 参照平面(口径6英寸、λ/15)


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